美國HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀 本產(chǎn)品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測(cè)試.現(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯(lián)系我們!

美國HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀簡介：

TD-65E 介損電橋設(shè)計(jì)用于通過 XBee 協(xié)議與 VLF-34E 或 VLF-65E 進(jìn)行無線通信并協(xié)同工作，以形成一個(gè)完整的電纜診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)具備*端功能，如無線通信、數(shù)據(jù)采集，并且可使用隨附的 E-Link PC 軟件生成報(bào)告。它旨在按照世界標(biāo)準(zhǔn)（IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等），對(duì) 5 至 35kV 的一次電纜進(jìn)行介損（Tan Delta，也稱為 Tan δ、損耗因數(shù)或損耗角）測(cè)試。介損測(cè)試是一種非破壞性診斷測(cè)試，用于測(cè)量屏蔽中壓 / 高壓電纜絕緣的劣化程度。測(cè)試結(jié)果能夠揭示絕緣層的污染、損壞情況或水樹分布狀況。介損測(cè)試是在停電電纜上進(jìn)行的離線測(cè)試，使用交流電源，在本案例中是使用非常低頻（0.1Hz）的高壓發(fā)生器為電纜提供測(cè)試電壓，同時(shí)介損電橋記錄測(cè)試結(jié)果。測(cè)試過程中會(huì)逐步升高測(cè)試電壓，并監(jiān)測(cè)讀數(shù)，以避免在介損數(shù)值表明電纜嚴(yán)重劣化時(shí)可能出現(xiàn)的電纜故障。

技術(shù)參數(shù)：